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防雷安全知识竞赛

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ZnO压敏电阻的离子迁移说劣化机理模与实验结果更相符，基本认为：（）。

  • A、劣化是一种晶界现象
  • B、劣化是耗尽层中离子迁移的结果
  • C、劣化是稳定层中离子迁移的结果
  • D、迁移离子主要是氧和填隙Zn
正确答案:A,B,D
答案解析:有
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