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综合计量工考试

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用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时，出现的干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。

  • A、球面干涉
  • B、等倾干涉
  • C、等厚干涉
正确答案:C
答案解析:有
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