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综合计量工考试

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某一量具工作面的平面度,若在白光情况下用平晶以技术光波干涉法检定时,受检工作面的平面度一般不大于()

  • A、0.01mm
  • B、0.02um
  • C、0.03um
正确答案:B
答案解析:
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