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无损检测技术资格人员考试

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射线探伤时，使用像质计的主要目的是（）。

  • A、测量缺陷的大小
  • B、测量缺陷的位置
  • C、测量缺陷的几何不清楚度
  • D、确定底片的彩像质量
正确答案:B
答案解析:有
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