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变电五通考试

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待试设备绕组幅频响应特性曲线中（）的变化，是分析待试设备绕组变形的重要依据。

  • A、波峰位置
  • B、波峰数量
  • C、波谷位置
正确答案:A,B,C
答案解析:有
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