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仪器分析工考试
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仪器分析工考试
请以流气正比计数器为例说明逃逸峰的产生过程。
正确答案:
当从晶体衍射出来的特征X射线荧光能量大于或等于Ar气的K层电子激发电位时,可以使Ar气产生ArKα线,Ar气对ArKα线吸收的可能性很小,就是说ArKα线能量从探测器逸出而损失,剩余的能量被探测器检测,产生的峰称为特征X射线的逃逸峰。逃逸峰的能量等于待测元素的能量减去ArKα的能量
答案解析:
有
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