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无损检测技术资格人员考试

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GB/T7233-87标准规定;探伤面上进行扫查时,相邻两次扫查应相互重叠为约晶片尺寸的()

  • A、10%
  • B、15%
  • C、20%
  • D、以上都可以
正确答案:B
答案解析:
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