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无损检测技术资格人员考试

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CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔，其目的是（）

  • A、测定斜探头K值
  • B、测定直探头盲区范围
  • C、测定斜探头分辨力
  • D、以上全是
正确答案:C
答案解析:有
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