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无损检测技术资格人员考试

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近表面下的缺陷用哪种方探测最好（）

  • A、后乳化型渗透法
  • B、着色渗透法
  • C、水洗型荧光渗透法
  • D、以上方法均不能探测近表面下的缺陷
正确答案:D
答案解析:有
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