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无损检测技术资格人员考试

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单晶片直探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为：（）

  • A、近场干扰
  • B、材质衰减
  • C、盲区
  • D、折射
正确答案:C
答案解析:有
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