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无损检测技术资格人员考试

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使用半波高度法测定小于声束直径的缺陷尺寸时，所测的结果：（）

  • A、小于实际尺寸
  • B、接近声束宽度
  • C、稍大于实际尺寸
  • D、等于晶片尺寸
正确答案:B
答案解析:有
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