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特高频超声波局部放电检测
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特高频超声波局部放电检测
GIS罐体内部颗粒的来源有()。
A、安装时未清理干净一流的颗粒;
B、机械部件振动摩擦掉落的粉尘颗粒;
C、固体吸附剂掉落的颗粒;
D、断路器切断故障电流时,电弧烧蚀产生的粉尘颗粒。
正确答案:
A,B,C,D
答案解析:
有
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