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口腔正畸

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X线头影测量的主要应用有哪些?

正确答案: (1).研究颅面生长发育。
(2).牙颌、颅面畸形的诊断分析。
(3).确定错合畸形的矫治设计。
(4).研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化。
(5).外科正畸的诊断和矫治设计。
(6).下颌功能分析。
答案解析:
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