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无损探伤工

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单晶片直探头接触法探伤中,与接触面十分接近的缺陷往往不能有效地检出这是因为()。

  • A、近场干扰
  • B、材质衰减
  • C、盲区
  • D、选择范围
正确答案:C
答案解析:
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